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蛍光X線分析の実際 第2版
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商品情報
- 発売日： 2016年07月15日頃
- 著者／編集： 中井 泉(編) , 日本分析化学会X線分析研究懇談会(監修)
- シリーズ： 蛍光X線分析の実際
- 出版社： 朝倉書店
- 発行形態： 単行本
- ページ数： 280p
- ISBN： 9784254141030
商品説明
内容紹介（JPROより）
試料調製，標準物質，蛍光X線装置スペクトル，定量分析などの基礎項目を平易に解説し，さらに食品中の有害元素分析，放射性大気粉塵の解析，美術品をはじめ文化財への非破壊分析など豊富な応用事例を掲載した実務家必携のマニュアル。
目次（「BOOK」データベースより）
蛍光Ｘ線分析の基礎／蛍光Ｘ線スペクトル／蛍光Ｘ線分析装置／よりよいスペクトルの測り方、読み方／試料調製法／定量分析／標準物質／全反射蛍光Ｘ線分析法／Ｘ線顕微鏡／ＳＥＭ-ＥＤＳ／めっき・薄膜の分析／ヘンドヘルド蛍光Ｘ線分析計／放射光利用／新しいアプローチと特殊応用／蛍光Ｘ線分析の実際：応用事例集／分析結果を論文・報告書に書くときの注意事項／法令と届出
著者情報（「BOOK」データベースより）
中井泉（ナカイイズミ）
１９５３年東京都に生まれる。１９７５年東京教育大学理学部化学科卒業。１９８０年筑波大学大学院化学研究科博士課程修了（理学博士）。１９８２年筑波大学化学系助手。１９８４年筑波大学化学系講師。１９９４年東京理科大学理学部助教授。１９９８年東京理科大学理学部教授（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）
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