内容紹介（「BOOK」データベースより）

パワーデバイス・イネーブリング協会半導体技術者検定エレクトロニクス３級、公式テキスト。

目次（「BOOK」データベースより）

序章　半導体の試験について／第１章　半導体の基礎（半導体物性／トランジスタの構造と動作原理　ほか）／第２章　半導体の品質保証（品質保証／信頼性基礎技術　ほか）／第３章　半導体製品の分類（デバイスタイプ／ロジックデバイス　ほか）／第４章　半導体の試験項目（半導体試験装置によるデバイス試験の概要／ファンクション試験　ほか）

著者情報（「BOOK」データベースより）

浅田邦博（アサダクニヒロ）
東京大学名誉教授。１９７５年３月東京大学工学部電子工学卒業。８０年３月同大学院博士課程修了（工博）。８０年４月東京大学工学部任官。９５年同工学系研究科教授。９６年同大規模集積システム設計教育研究センター（ＶＤＥＣ）の設立に伴い同センターに異動、２０００年４月同センター長、１８年３月末に東京大学を退職。現在、武田計測先端知財団常任理事。この間、８５〜８６年英国エディンバラ大学訪問研究員。９０〜９２年電子情報通信学会英文誌エレクトロニクスエディタ。０１〜０２年ＩＥＥＥ　ＳＳＣＳ　Ｊａｐａｎ　Ｃｈａｐｔｅｒ　Ｃｈａｉｒ。０５〜０８年ＩＥＥＥ　Ｊａｐａｎ　Ｃｏｕｎｃｉｌ　Ｃｈａｐｔｅｒ　Ｏｐｅｒａｔｉｏｎ　Ｃｈａｉｒ等々。専門は集積システム・デバイス工学（本データはこの書籍が刊行された当時に掲載されていたものです）